日前獲悉， 為滿足廣大客戶需求，儀思奇（北京）科技發展有限公司北京應用實驗室已經對外正式服務，可以接受多功能超聲粒度及Zeta電位分析儀和圖像法粒度粒形分析儀委托樣品測試。

一、 500nano XY 彩色粒度和形貌分析儀：

     目前，流行的粒度分布測定方法是激光衍射法，但是近新修訂的GBT19077-2016《粒度分析：激光衍射法》（即ISO13320：2009）指出：激光粒度分析儀只能用于球形顆粒的檢測，對于非球形顆粒誤差較大，其結果受到顆粒形貌的極大影響，誤差來源包括顆粒的光學各向異性、顆粒的非球形和表面粗糙度、熒光等，對極少量大顆粒靈敏度不夠，可靠性范圍在粒度分布的5%—95%之間。

    隨著計算機技術的和計算機視覺技術的迅猛發展，以歐奇奧儀器公司為代表的新一代圖像法粒度和形貌分析儀用“眼”看世界，正在逐步取代流行了二十年的激光粒度儀。它沒有理論假設，只有對顆粒的定義，因此，能夠地反映樣品的真實粒度及其分布，并且能對顆粒形貌進行地定量分析，給出各種形貌分布圖。目前，實驗室擁有的500nano XY靜態法圖像分析儀代表著粒度和形貌分析的zui高水平，可以對0.2—3000微米范圍內的樣品進行透射、反射和彩色分析，可以提供宏觀、介觀和微觀的顆粒形貌參數，分析參數多達80個，具體參數如下：

l 干法：0.2 µm-3000 µm;   濕法：0.2µm-300 µm

l 符合ISO-13322-1規范

l 無需理論及樣品參數設定, 給出zui真實的分析結果

l 干法和濕法兩用, 具備顆粒計數功能

l 分析快速、操作簡便，80個以上粒徑和形貌分析參數

l 不僅可利用透射光分析，還可以利用反射光進行分析

二、DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀：

美國分散科技公司（Dispersion Technology，Inc，DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業務。 DTI開發的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 ζ電位、流變學、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應用于多孔固體，是高濃度、高粘度或有色膠體體系的*測量手段。

應用實驗室現有的DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀實際是一臺高度集成的超聲/電聲譜分析儀，不僅可以測定原濃體系黑色漿料的粒度分布和zeta電位（粒度范圍：5nm～1mm，體積濃度可達50%），適應高粘度樣品的測定（可達20,000 cP），而且可在一臺儀器上完成pH、溫度、電導率及流變性質的測定。該儀器可同時執行ISO 20998/ ISO13099標準，利用電學和聲學方法，可以在分散液、微乳液、具有液體分散介質的多孔材料等多相體系中測定Zeta電位。對Zeta電位值和分散相的質量分數（包括稀釋和濃縮體系）沒有限定，顆粒粒徑和孔徑大小可以在微米量級或納米范圍，對顆粒或孔隙的幾何形狀也沒有特殊的限制。液體分散介質可以是水相或者非水相，可具有任意的液體電導率、介電常數或化學成分。顆粒自身可以導電也可以不導電，膠體的雙電層可以分離也可以互相重疊，雙電層厚度或其它性質沒有限制。因此，對于電池漿料及其類似體系具有廣泛的適用性。除此之外，我們還可以計算在ISO13099標準中與體系顆粒電學性質相關的以下參數：

1.Debye：即德拜長度（Debye length），電解液中雙電層的特征長度，單位是nm。它反映了膠體顆粒外層緊密層+擴散層的厚度，即雙電層厚度。雙電層厚度可以直接表明膠體顆粒帶電多少、帶電離子水化膜的厚薄和ζ電位的大小，它們直接影響著分散體系的穩定性和流變性。

2. Du：杜坎數（Dukhin number），無量綱，反映表面電導率對電動、電聲現象及多相體系電導率和介電常數的貢獻，是雙電層極化狀態的表面過剩導電率的表征參數。它描述了顆粒的表面電導率和周圍流體的體電導率之間的比率。

3. Surface charge：雙電層的面電荷密度。單位面積界面上的電荷，由液體體相離子的特異吸附，或表面基團解離所致。表面電荷密度的單位是C/cm² （庫倫/厘米²）。

此外，該儀器還可以通過電聲電震法測定多孔材料的孔隙率和表面zeta電位。

儀思奇（北京）科技發展有限公司于在新能源領域、生物醫藥領域和催化化工領域的新型儀器分析技術的推廣，同時聯合高校、企業以及中科院相關領域的專家學者研制和設計催化行業急需的儀器，以儀器分析解決方案支撐前沿材料研發和生產、促進科研院所材料研發成果的產業化。