THETIS™將三種測量類型組合到了一臺精致的小型儀器中，包括動態(tài)光散射（DLS）、去偏振動態(tài)光散射（DDLS）和具有連續(xù)多角度功能的靜態(tài)光散射（SLS）。THETIS™還繼承Vasco Kin^TM的特點(diǎn)，集成了*的時間分辨相關(guān)技術(shù)，用于高分辨率實(shí)時測量。憑借這些特性，THETIS™第一次實(shí)現(xiàn)了：

l 時間分辨DLS (粒度分布及動力學(xué))

l DDLS (顆粒的長度、寬度和長寬比)

l 連續(xù)多角度 SLS (顆粒分子量, 回轉(zhuǎn)半徑)

THETIS™第一次實(shí)現(xiàn)了在一臺儀器中輕松測量膠體懸浮液中各向異性納米顆粒的長度和寬度，成為表征所有類型的納米顆粒（各向同性和各向異性）的通用和強(qiáng)大的工具，為納米顆粒的測量提供了非常廣泛的應(yīng)用范圍。
 

動態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Scattering，DLS）是一種可快速、準(zhǔn)確地測量溶液或者懸浮液中生物分子和納米顆粒的流體力學(xué)半徑的方法，然而傳統(tǒng)的動態(tài)光散射法只能測量無偏振或垂直偏振方向上的散射光，得到顆粒平動系數(shù)，進(jìn)而計(jì)算出顆粒直徑。這種只適用于球形顆粒，無法測量短的碳納米管及其他棒狀納米顆粒或鏈狀高分子的長度。

去偏振動態(tài)光散射技術(shù)（Depolarized Dynamic Light Scattering，DDLS）是近年來新出現(xiàn)的一種可測量顆粒二維信息的新方法。一般來說，光散射儀可以提供兩種光散射檢測模式：其一為VV模式，即儀器標(biāo)準(zhǔn)配置下的檢測模式——采用垂直偏振的激光光源和無偏振的檢測；其二是VH模式，即激光光源為垂直偏振光，但檢測則在水平偏振方向上進(jìn)行。VH模式下的測試又被稱為去偏振動態(tài)光散射（DDLS）。DDLS是研究單分散各向異性體系的常用方法。通過DDLS，研究人員可以檢測各向異性體系的旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散系數(shù)，例如：棒狀病毒在不同離子強(qiáng)度下的水溶液中的旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散行為等等。DDLS可以測量棒狀納米顆粒和纖維的長度、寬度和長寬比，與電鏡相比，不需要復(fù)雜的制樣過程。由于不同粒度的顆粒在不同散射角度下散射特性不同，多角度測量可以獲取更多的顆粒粒徑的信息。因此，多角度動態(tài)光散射技術(shù)比單角度測量技術(shù)在反演雙峰粒度分布方面具有明顯優(yōu)勢。THETIS™可在不同角度同步檢測VV和VH，極大地拓展了應(yīng)用空間。

靜態(tài)光散射 (SLS)是通過檢測不同濃度樣品的散射光強(qiáng)的角度依賴性，計(jì)算重均分子量(Mw)，均方根回旋半徑(Rg)，第二維利系數(shù)(A₂)。結(jié)合同步測量的動態(tài)靜態(tài)光散射結(jié)果，可以計(jì)算單一濃度樣品的形狀因子，用于大分子的構(gòu)象研究。

THETIS™依然秉承了她的前輩AMERIGO、MAGELLAN和VASCO出色的工業(yè)設(shè)計(jì)傳統(tǒng)，*的法國設(shè)計(jì)和生產(chǎn)，實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大測量功能的同時，兼顧了外觀設(shè)計(jì)上的優(yōu)雅、緊湊和便捷。其主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)是：

l DLS、SLS和DDLS測量模式三合一

l 30°至150°的多角度散射檢測系統(tǒng)

l VV和VH兩個偏振方向同時檢測

l 粒度、長寬比、長度和寬度測量

l 分子量測量

l 動態(tài)粒度分布測定-動態(tài)時間切片和數(shù)據(jù)分析功能

l 增強(qiáng)型數(shù)據(jù)處理算法：多峰連續(xù)算法（MCA），多峰離散算法（MDA），以及標(biāo)準(zhǔn)累積量算法

l 占地面積小

THETIS™可應(yīng)用在以下領(lǐng)域：

l 化學(xué)化工：各種聚合物、膠束、超高分子的表征，包括粒度分布

l 石油化工：各種高分子添加劑、驅(qū)油劑、表面活性劑表征和研究

l 生物醫(yī)藥：

n 藥物聚集即穩(wěn)定性研究；

n 蛋白質(zhì)、多肽、及多糖的表征；

n 病毒、抗原和抗體的表征和相互作用

n 微乳液聚合過程及反應(yīng)機(jī)理研究

n 解聚大分子自組裝過程的動力學(xué)研究

l 先進(jìn)材料：碳納米管和碳纖維的長度和寬度測定

儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司致力于顆粒特性表征的先進(jìn)儀器和技術(shù)的推廣和開發(fā)，是比利時歐奇奧（Occhio）圖像法粒度分析儀和美國分散技術(shù)公司（DT）超聲粒度和zeta電位分析儀的總代理。作為中國區(qū)總代理，儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司已經(jīng)與法國Cordouan Technologies建立了深度合作的關(guān)系。欲了解更加詳細(xì)的信息，請聯(lián)系儀思奇科技。