2018中國材料大會于2018年7月13日在廈門會展中心開幕，會期歷時四天，參會人數多達6000人。中國材料大會作為中國材料研究學會的每年重要的系列會議，已經成為從事新材料科學研究、開發和產業化的專家、學者、教授、科技工作者交流和共享研究成果的重要平臺。同時也為眾多儀器廠家向各高校、研究機構和企業提供了展示新儀器及測試技術的機會。

      儀思奇（北京）科技發展有限公司攜Occhio粒度粒形分析儀系列以及DT-1202粒度及Zeta電位分析儀參加了此次盛會，向各位學者，老師和材料研究者展現和介紹了粒度粒形分析和原濃體系下測試粒度和zeta電位的新技術。比利時歐奇奧儀器公司已正式儀思奇科技作為歐奇奧中國技術中心。

       圖像法粒度和粒形分析儀作為新一代粒度分析儀，不僅可以獲得顆粒大小信息，也可以統計評價顆粒的形貌參數，圖像粒度儀的適用范圍并不局限于球形顆粒，可適用于所有顆粒形狀，即使片狀，棒狀，纖維狀顆粒都可以進行表征測量。圖像法粒度儀通過 取像可以確定顆粒的分散狀態，評價顆粒的形貌參數，甚至色彩信息。由于現代計算機技術的發展，采樣過程自動化，顆粒采集量可達上百萬個，使得無論是顆粒大小還是形貌統計都具有了重要的指導意義。其中歐奇奧儀器所*的表征衛星粉的形貌評價參數，吸引了眾多老師的關注。對于評價3D打印粉等金屬粉末有著重要的價值和意義。

        超聲法粒度及zeta電位分析為表征原濃體系的粒度和zeta電位提供了有效且的手段。傳統方法采用動態光散射的方法，因此對于高濃體系需要進行多倍稀釋，對于類似黑色漿料，墨水等具有顏色的體系無法進行測量分析。而美國分散技術公司所研發和生產的超聲法粒度和zeta電位分析儀解決了此類問題。

      儀思奇科技是比利時歐奇奧公司（OCCHIO Instruments）和美國分散技術公司（Dispersion Technology）的中國技術中心。

      歐奇奧儀器公司成立于 2001年，是專業從事圖像法粒度粒形分析儀的開發和制造的儀器公司，擁有強大硬件設計和顆粒圖形統計處理能力，超過80個粒度與粒形參數，同行業內產品種類多，產品線齊全。歐奇奧依托于大學的研發力量，在光電子和計算機輔助圖像分析方面積累了豐富的經驗，能夠在幾分鐘內完成數萬顆粒的圖像采集、統計處理，快速提供的粒徑粒形信息。

       美國分散技術公司（Dispersion Technology）成立于1996年，現任董事長為Andrei Dukhin博士。基于前蘇聯兩代膠體化學家雄厚的理論基礎和貢獻（見文獻http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/ac9006683），美國分散技術公司專業開發和生產超聲衰減和電聲譜儀，以表征原濃體系的粒度分布、Zeta電位、流變性、電導率、孔隙率等，包括CMP漿料，納米分散體、陶瓷漿料、電池漿料，水泥，制藥乳劑等，并在多孔固體表面電位和孔隙率快速測定方面取得突破。其粒度和zeta電位測定方法均被采納為ISO的標準方法，用戶分布在包括中國在內的30多個國家和地區。

       儀思奇科技（北京）科技發展有限公司業務專注于材料行業前沿儀器產品和技術的引進與推廣； 以應用開發為先導、以維修服務為保障、以儀器為核心。雖然是一個年輕的企業，但是我們的專業團隊正在為用戶提供更的服務