膜表面電位是一個負反饋放大——輸出系統，與被保護物(如埋地管道)構成閉環調節，通過參比電極測量通電點電位，作為取樣信號與控制信號進行比較，實現控制并調節極化電流輸出，使通電點電位得以保持在設定的控制電位上。
 

　　膜表面電位的工作原理是將參比信號經阻抗變換后與控制電位加到比較放大器，經比較放大后，輸出與誤差成正比的信號。在儀器處于“自動”工作狀態下，該信號加到移相觸發器，移相觸發器根據該信號電壓的小，自動調整觸發脈沖的產生時間，改變極化回路中可控硅的導通，從而改變輸出電流、電壓的大小，以至達到參比電位等于給定電位，這個過是在不斷進行的。
 

　　膜表面電位主要是測量分散體系中帶電顆粒的，廣泛應用于現代科研、生產領域。比如在工業廢水、江河飲用水采水處理中，我們希望添加適合的絮凝劑，使水分散體系趨向于極不穩定、水分散體系中的帶電顆粒絮凝成大團并沉降，從而獲得干凈的水體。而相反的例子是在造紙工業中，我們希望調配較佳的漿體環境，使紙漿分散體系趨向于非常穩定、紙漿分散體系中的帶電顆粒以極小微粒分散，從而獲得光潔平滑的紙張。
 

　　儀器采用了高靈敏度測量技術，是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與分析儀，可檢測粒徑從0。1nm到12。30μm，濃度從0。00001%到40%的樣品的粒徑。在半導體，醫藥和食品行業，陶瓷和顏料工業，聚合物和化工領域有較好的應用。